Systematic measurement and analysis for defectronics of opto-electronic devices
일 시 : 2022년 10월 05일 수요일 16:30
연 사 : 정 권 범 교수 (동국대학교 물리학과)
장 소 : 자연과학관 B117호
HOST : 정 문 석 교수님
초 록
다양한 스위칭, 메모리, 비메모리 소자, 태양 전지, 센서 등을 구성하는 물질에 존재하는 결함은 소자의 광학적/전기적 특성에 중대한 영향을 미치게 된다. 구조적, 물질적, 전기적 원인 등에 의해서 발생되는 결함들을 이해하는데 있어서 전자 구조 상에서 결함의 준위와 양에 대한 측정과 분석은 매우 중요한 이슈이다. 그러나, 현재까지 연구되고 있는 결함 측정과 분석 방법들은 상대적인 비교만 가능한 정성적인 분석에 치우쳐 있다. 결함의 원인을 파악하고 이를 바탕으로 여러 전자 소자의 특성을 제어하는 Defectronics를 구현 하려면, 결함의 측정과 분석이 종합적인 관점에서 정성적, 정량적으로 이해하는 것이 매우 중요하다. 본 발표에서는 다양한 광/전기적 방법을 이용한 산화물 박막과 소자의 결함 준위를 측정하고 분석 하는 방법을 소개하고자 한다. 결함의 측정과 분석에 있어 정성적인 변화, 동역학적인 변화, 정량적인 변화, 결함의 모니터링을 종합적으로 이해하고 토의 하고자 한다.